Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
Zapisane w:
| Korporacja: | |
|---|---|
| Format: | Nieznany |
| Język: | angielski |
| Wydane: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
Napisz pierwszy komentarz!