Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
Сохранить в:
| Соавтор: | |
|---|---|
| Формат: | Неизвестно |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| Предметы: | |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
Ваш комментарий будет первым!