Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
Sparad:
| Institutionell upphovsman: | |
|---|---|
| Materialtyp: | Okänd |
| Språk: | engelska |
| Publicerad: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| Ämnen: | |
| Taggar: |
Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!
|
Lägg till första kommentaren!