Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
Kaydedildi:
| Müşterek Yazar: | |
|---|---|
| Materyal Türü: | Bilinmiyor |
| Dil: | İngilizce |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| Konular: | |
| Etiketler: |
Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|
İlk yorumlayan siz olun!