Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
Збережено в:
| Співавтор: | |
|---|---|
| Формат: | Невідомо |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| Предмети: | |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Будьте першим, хто залишить коментар!