Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
Đã lưu trong:
| Tác giả của công ty: | |
|---|---|
| Định dạng: | Không biết |
| Ngôn ngữ: | Tiếng Anh |
| Được phát hành: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| Những chủ đề: | |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Là người đầu tiên ghi lời nhận xét!