Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
Saved in:
| 企業作者: | |
|---|---|
| 格式: | 未知 |
| 語言: | 英语 |
| 出版: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| 主題: | |
| 標簽: |
添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
|
成為第一個發表評論!