International Standard ISO 8422: sequential sampling plans for inspection by attributes
محفوظ في:
| مؤلف مشترك: | |
|---|---|
| التنسيق: | غير معروف |
| اللغة: | الإنجليزية |
| منشور في: |
Geneva, Switzerland
International Organization for Standardization
2006
|
| الطبعة: | Second edition |
| الموضوعات: | |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
كن أول من يترك تعليقا!