International Standard ISO 8422: sequential sampling plans for inspection by attributes
সংরক্ষণ করুন:
| সংস্থা লেখক: | |
|---|---|
| বিন্যাস: | অজ্ঞাত |
| ভাষা: | ইংরেজি |
| প্রকাশিত: |
Geneva, Switzerland
International Organization for Standardization
2006
|
| সংস্করন: | Second edition |
| বিষয়গুলি: | |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
প্রথমজন হিসাবে মন্তব্য করুন!