International Standard ISO 8422: sequential sampling plans for inspection by attributes
Guardat en:
| Autor corporatiu: | |
|---|---|
| Format: | Desconegut |
| Idioma: | anglès |
| Publicat: |
Geneva, Switzerland
International Organization for Standardization
2006
|
| Edició: | Second edition |
| Matèries: | |
| Etiquetes: |
Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|
Sigues el primer a deixar un comentari!