International Standard ISO 8422: sequential sampling plans for inspection by attributes
Tallennettuna:
| Yhteisötekijä: | |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Tuntematon |
| Kieli: | englanti |
| Julkaistu: |
Geneva, Switzerland
International Organization for Standardization
2006
|
| Painos: | Second edition |
| Aiheet: | |
| Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Lisää ensimmäinen kommentti!