International Standard ISO 8422: sequential sampling plans for inspection by attributes
Bewaard in:
| Coauteur: | |
|---|---|
| Formaat: | Onbekend |
| Taal: | Engels |
| Gepubliceerd in: |
Geneva, Switzerland
International Organization for Standardization
2006
|
| Editie: | Second edition |
| Onderwerpen: | |
| Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
Wees de eerste die reageert!