International Standard ISO 8422: sequential sampling plans for inspection by attributes
Збережено в:
| Співавтор: | |
|---|---|
| Формат: | Невідомо |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Geneva, Switzerland
International Organization for Standardization
2006
|
| Редагування: | Second edition |
| Предмети: | |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Будьте першим, хто залишить коментар!