Conference on electronic test and measuring instrumentation Testmex 79
Shranjeno v:
| Korporativna značnica: | |
|---|---|
| Format: | Knjiga |
| Jezik: | angleščina |
| Izdano: |
Londres
IEE
1979
|
| Serija: | IEE Conference Publication, 174
|
| Teme: | |
| Oznake: |
Označite
Brez oznak, prvi označite!
|
| Fizični opis: | 157 p |
|---|