Conference on electronic test and measuring instrumentation Testmex 79

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Korporativní autor: Institution of Electrical Engineers (Autor)
Médium: Kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Londres IEE 1979
Edice:IEE Conference Publication, 174
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 a 4500
001 UCU5078
003 CL-VaPUC
005 20210804001507.0
008 960531e19790000uk 1 eng d
082 0 4 |a 621.381  |b INS  |2 21 
110 2 |a Institution of Electrical Engineers  |e author  |9 617794 
245 1 0 |a Conference on electronic test and measuring instrumentation Testmex 79 
260 |a Londres  |b IEE  |c 1979 
300 |a 157 p 
490 0 |a IEE Conference Publication, 174 
583 |a last modification  |c 19960531 00:00:00  |k Rodrigo Vera 
650 0 0 |a Electrónica   |9 263192 
650 0 0 |a Tecnología electrónica  |9 334386 
650 0 7 |a MICROELECTRONICA  |2 CL-VaPUC  |9 271910 
650 0 0 |a Propagación de ondas  |9 263256 
650 0 0 |a Circuitos electrónicos  |9 260204 
650 0 0 |a Informática   |9 260044 
942 |c BK 
945 |a cmena  |d 19960531 00:00:00 
546 |a En Inglés 
518 |p Conference on Electronic Test and Measuring Instrumentation - Testmex 79, 19 al 21 de Junio de 1979 
999 |c 382647  |d 382645 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 621_381000000000000_INS_1979  |7 0  |8 A  |9 504445  |a BIBING  |b BIBING  |d 2020-01-23  |i 167238K  |o 621.381 INS 1979  |p 167238K  |r 2025-01-20  |w 2020-01-23  |y BK  |k ING