Conference on electronic test and measuring instrumentation Testmex 79

Shranjeno v:

Bibliografske podrobnosti
Korporativna značnica:	Institution of Electrical Engineers (Author)
Format:	Knjiga
Jezik:	angleščina
Izdano:	Londres IEE 1979
Serija:	IEE Conference Publication, 174
Teme:	Electrónica Tecnología electrónica MICROELECTRONICA Propagación de ondas Circuitos electrónicos Informática
Oznake:	Označite Brez oznak, prvi označite!

Biblioteca Mayor de Ingeniería -

Podrobnosti zaloge Biblioteca Mayor de Ingeniería -
Signatura:	621.381 INS 1979
Kopija 167238K	Prosto Rezerviraj