Advances in X-Ray diffractometry and X-Ray spectrography

Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autore principale: Parrish, William (Autore)
Natura: Libro
Lingua:inglese
Pubblicazione: Eindhoven Centrex 1962
Serie:P.L. Contribution, 188
Soggetti:
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!

Biblioteca Mayor de Ingeniería -

Dettagli sul posseduto da Biblioteca Mayor de Ingeniería -
Collocazione: 539.722 PAR 1962
Copia 1658069 Disponibile Richiedi