Advances in X-Ray diffractometry and X-Ray spectrography

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Parrish, William (Autor)
Médium: Kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Eindhoven Centrex 1962
Edice:P.L. Contribution, 188
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Popis
Popis jednotky:A volume of fifteen selected reprints from Philips Laboratories Irvington-on-Hudson, New York, U.S.A
Fyzický popis:233 p