Advances in X-Ray diffractometry and X-Ray spectrography

Saved in:
Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Parrish, William (Author)
Format: Bog
Sprog:engelsk
Udgivet: Eindhoven Centrex 1962
Serier:P.L. Contribution, 188
Fag:
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
Beskrivelse
Emne beskrivelse:A volume of fifteen selected reprints from Philips Laboratories Irvington-on-Hudson, New York, U.S.A
Fysisk beskrivelse:233 p