Advances in X-Ray diffractometry and X-Ray spectrography

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Parrish, William (Συγγραφέας)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: Eindhoven Centrex 1962
Σειρά:P.L. Contribution, 188
Θέματα:
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
Περιγραφή
Περιγραφή τεκμηρίου:A volume of fifteen selected reprints from Philips Laboratories Irvington-on-Hudson, New York, U.S.A
Φυσική περιγραφή:233 p