Advances in X-Ray diffractometry and X-Ray spectrography
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
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| Format: | Livre |
| Langue: | anglais |
| Publié: |
Eindhoven
Centrex
1962
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| Collection: | P.L. Contribution, 188
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| Sujets: | |
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| Description: | A volume of fifteen selected reprints from Philips Laboratories Irvington-on-Hudson, New York, U.S.A |
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| Description matérielle: | 233 p |