Advances in X-Ray diffractometry and X-Ray spectrography
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| פורמט: | ספר |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
Eindhoven
Centrex
1962
|
| סדרה: | P.L. Contribution, 188
|
| נושאים: | |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
| תאור פריט: | A volume of fifteen selected reprints from Philips Laboratories Irvington-on-Hudson, New York, U.S.A |
|---|---|
| תיאור פיזי: | 233 p |