Advances in X-Ray diffractometry and X-Ray spectrography

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書誌詳細
第一著者: Parrish, William (著者)
フォーマット: 図書
言語:英語
出版事項: Eindhoven Centrex 1962
シリーズ:P.L. Contribution, 188
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その他の書誌記述
記述事項:A volume of fifteen selected reprints from Philips Laboratories Irvington-on-Hudson, New York, U.S.A
物理的記述:233 p