Advances in X-Ray diffractometry and X-Ray spectrography
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
Eindhoven
Centrex
1962
|
| Серии: | P.L. Contribution, 188
|
| Предметы: | |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Примечание: | A volume of fifteen selected reprints from Philips Laboratories Irvington-on-Hudson, New York, U.S.A |
|---|---|
| Объем: | 233 p |