Advances in X-Ray diffractometry and X-Ray spectrography

Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autore principale: Parrish, William (Autore)
Natura: Libro
Lingua:inglese
Pubblicazione: Eindhoven Centrex 1962
Serie:P.L. Contribution, 188
Soggetti:
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 a 4500
001 UCU3740
003 CL-VaPUC
008 960510e19620000NE |||||||||||||||||eng|d
082 0 4 |a 539.722  |b PAR  |2 21 
100 0 |a Parrish, William  |e author  |9 360845 
245 1 0 |a Advances in X-Ray diffractometry and X-Ray spectrography 
300 |a 233 p 
942 |c BK 
945 |d 19960510 00:00:00  |a paguirre 
260 |a Eindhoven  |b Centrex  |c 1962 
500 |a A volume of fifteen selected reprints from Philips Laboratories Irvington-on-Hudson, New York, U.S.A 
650 0 |a Rayos X  |9 313670 
650 0 |a Espectroscopía  |9 306791 
650 7 |a DIFRACCION  |2 CL-VaPUC  |9 354948 
650 7 |a RADIACION ELECTROMAGNETICA  |2 CL-VaPUC  |9 345469 
650 7 |a ESPECTROS ELECTROMAGNETICOS  |2 CL-VaPUC  |9 360846 
583 |a last modification  |c 19960510 00:00:00  |k Rodrigo Vera 
490 0 |a P.L. Contribution, 188 
999 |c 247645  |d 247643 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 539_722000000000000_PAR_1962  |7 0  |8 A  |9 263707  |a BIBING  |b BIBING  |d 2019-11-19  |i 1658069  |o 539.722 PAR 1962  |p 1658069  |r 2025-01-20  |w 2019-11-19  |y BK  |k EIQ