Advances in X-Ray diffractometry and X-Ray spectrography

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Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Parrish, William (Author)
Formato: Libro
Idioma:inglés
Publicado: Eindhoven Centrex 1962
Series:P.L. Contribution, 188
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Biblioteca Mayor de Ingeniería -

Detalle de Existencias desde Biblioteca Mayor de Ingeniería -
Número de Clasificación: 539.722 PAR 1962
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