Advances in X-Ray diffractometry and X-Ray spectrography

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Parrish, William (مؤلف)
التنسيق: كتاب
اللغة:الإنجليزية
منشور في: Eindhoven Centrex 1962
سلاسل:P.L. Contribution, 188
الموضوعات:
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

Biblioteca Mayor de Ingeniería -

تفاصيل المقتنيات من Biblioteca Mayor de Ingeniería -
رقم الاستدعاء: 539.722 PAR 1962
النسخة 1658069 متاح أحجز النسخة