Advances in X-Ray diffractometry and X-Ray spectrography

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Parrish, William (Autor)
Médium: Kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Eindhoven Centrex 1962
Edice:P.L. Contribution, 188
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Biblioteca Mayor de Ingeniería -

Informace o exemplářích z: Biblioteca Mayor de Ingeniería -
Signatura: 539.722 PAR 1962
Jednotka 1658069 Dostupné Požadavek