Advances in X-Ray diffractometry and X-Ray spectrography

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Parrish, William (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Eindhoven Centrex 1962
Schriftenreihe:P.L. Contribution, 188
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Biblioteca Mayor de Ingeniería -

Bestandsangaben von Biblioteca Mayor de Ingeniería -
Signatur: 539.722 PAR 1962
Exemplar 1658069 Verfügbar Bestellen