Advances in X-Ray diffractometry and X-Ray spectrography

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Parrish, William (Συγγραφέας)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: Eindhoven Centrex 1962
Σειρά:P.L. Contribution, 188
Θέματα:
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!

Biblioteca Mayor de Ingeniería -

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από Biblioteca Mayor de Ingeniería -
Ταξινομικός Αριθμός: 539.722 PAR 1962
Αντίγραφο 1658069 Στη βιβλιοθήκη Κάντε κράτηση