Advances in X-Ray diffractometry and X-Ray spectrography

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Parrish, William (Yazar)
Materyal Türü: Kitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: Eindhoven Centrex 1962
Seri Bilgileri:P.L. Contribution, 188
Konular:
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!

Biblioteca Mayor de Ingeniería -

Detaylı Erişim Bilgileri Biblioteca Mayor de Ingeniería -
Yer Numarası: 539.722 PAR 1962
Kopya Bilgisi 1658069 Kütüphanede Rezerve