Applied statistics for engineers
Zapisane w:
| 1. autor: | Wilson, C (Autor) |
|---|---|
| Format: | Książka |
| Język: | angielski |
| Wydane: |
Londres
Applied Science
1972
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
Podobne zapisy
Control estadístico de calidad
od: Grant, Eugene Lodewick, i wsp.
Wydane: (1977)
od: Grant, Eugene Lodewick, i wsp.
Wydane: (1977)
Methods and applications of statistics in engineering, Quality control, and the Physical Sciences.
Wydane: (2011)
Wydane: (2011)
Introduction to engineering statistics and Six Sigma: statistical quality control and design of experiments and systems
od: Allen, Theodore T
Wydane: (2006)
od: Allen, Theodore T
Wydane: (2006)
Statistics in engineering: a practical approach
od: Metcalfe, Andrew V.
Wydane: (1994)
od: Metcalfe, Andrew V.
Wydane: (1994)
Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
Wydane: (1999)
Wydane: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial
Wydane: (1999)
Wydane: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999, ISO 2859-2
Wydane: (1999)
Wydane: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999, ISO 2859-3
Wydane: (1999)
Wydane: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2237. Of1999
Wydane: (1999)
Wydane: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2236. Of1999, ISO 2859-0
Wydane: (1999)
Wydane: (1999)
Introduction to Engineering Statistics and Lean Sigma
od: Allen, Theodore T
Wydane: (2010)
od: Allen, Theodore T
Wydane: (2010)
Probabilidad y estadística para ingeniería
od: Scheaffer, Richard L
Wydane: (1993)
od: Scheaffer, Richard L
Wydane: (1993)
Introduction to engineering statistics and lean six sigma. Statistical quality control and design of experiments and systems.
od: Allen, Theodore T
Wydane: (2019)
od: Allen, Theodore T
Wydane: (2019)
Norma Chilena Oficial NCh 1479.Of79: productos alimenticios a granel - métodos y procedimientos de muestreo
Wydane: (1979)
Wydane: (1979)
Introduction to statistical quality control
od: Montgomery, Douglas C.
Wydane: (1991)
od: Montgomery, Douglas C.
Wydane: (1991)
Statistics for experimenters: an introduction to design, data analysis, and model building
od: Box, George Edward Pelham, i wsp.
Wydane: (1978)
od: Box, George Edward Pelham, i wsp.
Wydane: (1978)
Statistical quality control: a loss minimization approach
od: Trietsch, Dan
Wydane: (1999)
od: Trietsch, Dan
Wydane: (1999)
Designing for quality: an introduction to the best of Taguchi and western methods of statistical experimental design
od: Lochner, Robert H.
Wydane: (1990)
od: Lochner, Robert H.
Wydane: (1990)
Statistical quality control methods
od: Burr, Irving W
Wydane: (1976)
od: Burr, Irving W
Wydane: (1976)
Statistical methods for quality improvement
od: Ryan, Thomas P
Wydane: (1989)
od: Ryan, Thomas P
Wydane: (1989)
Mathematical and statistical methods in food science and technology
od: Granato, Daniel, i wsp.
Wydane: (2014)
od: Granato, Daniel, i wsp.
Wydane: (2014)
Elements of probability and statistics
od: Wolf, Frank L
Wydane: (1962)
od: Wolf, Frank L
Wydane: (1962)
Utilización de hidrocoloides como mejoradotes de la textura del pan larga vida
od: Mella Maldonado, Marcia
Wydane: (2002)
od: Mella Maldonado, Marcia
Wydane: (2002)
Introducción al control estadístico de la calidad
od: Montgomery, Douglas C.
Wydane: (1991)
od: Montgomery, Douglas C.
Wydane: (1991)
Control estadístico de calidad
od: Grant, Eugene Lodewick, i wsp.
Wydane: (1996)
od: Grant, Eugene Lodewick, i wsp.
Wydane: (1996)
Metrics and models in software quality engineering
od: Kan, Stephen H
Wydane: (1995)
od: Kan, Stephen H
Wydane: (1995)
Statistical quality control
od: Grant, Eugene Lodewick
Wydane: (1964)
od: Grant, Eugene Lodewick
Wydane: (1964)
Control de calidad: teoría y aplicaciones
od: Hansen, Bertrand L, i wsp.
Wydane: (1990)
od: Hansen, Bertrand L, i wsp.
Wydane: (1990)
Control de calidad y estadística industrial
od: Duncan, Acheson J
Wydane: (1990)
od: Duncan, Acheson J
Wydane: (1990)
Control estadístico de calidad
od: Grant, Eugene Lodewick, i wsp.
Wydane: (1986)
od: Grant, Eugene Lodewick, i wsp.
Wydane: (1986)
Sistemas de control de calidad
od: Fetter, Robert B
Wydane: (1971)
od: Fetter, Robert B
Wydane: (1971)
Sistemas de control de calidad
od: Fetter, Robert B
Wydane: (1975)
od: Fetter, Robert B
Wydane: (1975)
Statistical process control: theory and practice
od: Wetherill, G. Barrie, i wsp.
Wydane: (1991)
od: Wetherill, G. Barrie, i wsp.
Wydane: (1991)
Muestreo: diseño y análisis
od: Lohr, Sharon L.
Wydane: (2000)
od: Lohr, Sharon L.
Wydane: (2000)
SPC: practical understanding of capability by implementing statistical process control
od: Abbott, James C
Wydane: (1999)
od: Abbott, James C
Wydane: (1999)
Introduction to statistical quality control
od: Montgomery, Douglas C.
Wydane: (1990)
od: Montgomery, Douglas C.
Wydane: (1990)
Introduction to statistical quality control
od: Montgomery, Douglas C.
Wydane: (2013)
od: Montgomery, Douglas C.
Wydane: (2013)
Introduction to statistical quality control.
od: Montgomery, Douglas C.
Wydane: (2020)
od: Montgomery, Douglas C.
Wydane: (2020)
Control estadístico de la calidad
od: Montgomery, Douglas C.
Wydane: (2007)
od: Montgomery, Douglas C.
Wydane: (2007)
Handbook of statistical methods in manufacturing
od: Clements, Richard B
Wydane: (1991)
od: Clements, Richard B
Wydane: (1991)
Podobne zapisy
-
Control estadístico de calidad
od: Grant, Eugene Lodewick, i wsp.
Wydane: (1977) -
Methods and applications of statistics in engineering, Quality control, and the Physical Sciences.
Wydane: (2011) -
Introduction to engineering statistics and Six Sigma: statistical quality control and design of experiments and systems
od: Allen, Theodore T
Wydane: (2006) -
Statistics in engineering: a practical approach
od: Metcalfe, Andrew V.
Wydane: (1994) -
Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
Wydane: (1999)