Applied logistic regression.

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Hosmer, David W (autor)
Outros Autores: Lemeshow, Stanley (autor), Sturdivant, Rodney X (autor)
Formato: Livro
Idioma:inglês
Publicado em: Hoboken, Estados Unidos: John Wiley and Sons, 2013.
Edição:3a. edición.
Colecção:Wiley Series in Probability and Statistics.
Assuntos:
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