Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial
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| Format: | Unknown |
| Language: | English |
| Published: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
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| Subjects: | |
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| Physical Description: | 25 p |
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