Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial
Αποθηκεύτηκε σε:
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
|---|---|
| Μορφή: | Άγνωστο |
| Γλώσσα: | Αγγλικά |
| Έκδοση: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| Θέματα: | |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
| Φυσική περιγραφή: | 25 p |
|---|