Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
Guardado en:
| Autor Corporativo: | |
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| Formato: | Desconocido |
| Lenguaje: | inglés |
| Publicado: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
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| Materias: | |
| Etiquetas: |
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