Advances in X-Ray diffractometry and X-Ray spectrography

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Parrish, William (Egilea)
Formatua: Liburua
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: Eindhoven Centrex 1962
Saila:P.L. Contribution, 188
Gaiak:
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
Deskribapena
Alearen deskribapena:A volume of fifteen selected reprints from Philips Laboratories Irvington-on-Hudson, New York, U.S.A
Deskribapen fisikoa:233 p