Advances in X-Ray diffractometry and X-Ray spectrography
Zapisane w:
| 1. autor: | |
|---|---|
| Format: | Książka |
| Język: | angielski |
| Wydane: |
Eindhoven
Centrex
1962
|
| Seria: | P.L. Contribution, 188
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
| Deskrypcja: | A volume of fifteen selected reprints from Philips Laboratories Irvington-on-Hudson, New York, U.S.A |
|---|---|
| Opis fizyczny: | 233 p |